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聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X

簡(jiǎn)要描述:聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X 能量色散X熒光分析儀利用EDXRF技術(shù),采用X光管產(chǎn)生X射線激發(fā)樣品,先進(jìn)的SDD探測(cè)器探測(cè)元素特征X射線,2048道數(shù)字化全譜分析,可以分析包括輕元素在內(nèi)幾十種元素,具有分析速度快、分析精度高、分析范圍廣、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-06-13
  • 訪  問(wèn)  量: 441

詳細(xì)介紹

品牌聚創(chuàng)環(huán)保行業(yè)專用類型通用
重復(fù)性0.1能量分辨率1~45KeVeV
分析含量范圍0.07ppm~99.9%元素分析范圍Na-U
價(jià)格區(qū)間10萬(wàn)-30萬(wàn)儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域食品,化工,農(nóng)業(yè),地礦

 聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X

一、產(chǎn)品介紹 

   能量色散X熒光分析儀利用EDXRF技術(shù),采用X光管產(chǎn)生X射線激發(fā)樣品,先進(jìn)的SDD探測(cè)器探測(cè)元素特征X射線,2048道數(shù)字化全譜分析,可以分析包括輕元素在內(nèi)幾十種元素,具有分析速度快、分析精度高、分析范圍廣、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。

   在銅合金等金屬制造行業(yè)中,材料、半成品、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制(QA/QC,該儀器是質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗(yàn)、成品復(fù)檢的常備儀器。生產(chǎn)者可以控制合金中的元素各成分含量,提高產(chǎn)品性能、減少次品和廢品,提高經(jīng)濟(jì)效益。

 

二、主要用途

主要用于銅合金、鋁合金、鋅合金、鑄鐵等原材料檢驗(yàn),冶煉生產(chǎn)過(guò)程成分控制,成品元素成分定值,爐前合金的快速分析和成品分析。

三、性能特點(diǎn)

☆.采用了美國(guó)新型的電致冷硅漂移SDD半導(dǎo)體探測(cè)器,具有高分辨率(125eV)和高探測(cè)效率;

☆.采用高真空度測(cè)樣裝置,消除了空氣對(duì)低能X射線的阻擋,滿足RoHS或合金檢測(cè)時(shí)對(duì)輕元素的準(zhǔn)確分析;

☆.采用大功率的正高壓X光管和高壓發(fā)生器,提高了對(duì)輕重元素的檢測(cè)下限,實(shí)現(xiàn)了對(duì)多種元素的同時(shí)快速檢測(cè)分析;

☆.自動(dòng)開蓋,無(wú)限平臺(tái)的設(shè)計(jì)適應(yīng)多種不同大小規(guī)格樣品的檢測(cè),可以測(cè)量固體、 液體、粉末樣品;

☆.內(nèi)置彩色CCD攝像頭,使用戶可以精確定位檢測(cè)區(qū)域及時(shí)記錄所測(cè)樣品圖像信息;

☆.一體化的設(shè)計(jì),使得儀器的性能穩(wěn)定可靠、故障率低;

☆.采用USB-CAN適配器與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信,使用方便;

☆.自動(dòng)切換的濾片裝置有效的降低了光管的散射本底,提高了儀器測(cè)量的峰谷比和分辨率,使得重元素和微量元素的測(cè)量更準(zhǔn)確;

☆.先進(jìn)的全數(shù)字化多道譜儀讓儀器測(cè)量時(shí)的數(shù)據(jù)采集和處理更加快速準(zhǔn)確,極大的提高了儀器的穩(wěn)定性和抗干擾的能力;

☆.自帶數(shù)據(jù)庫(kù)管理系統(tǒng)的全中文測(cè)量軟件讓儀器的測(cè)量更加方便,操作更加簡(jiǎn)單;

☆.多重安全的防護(hù)設(shè)計(jì),使儀器的整機(jī)輻射符合國(guó)家輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn),讓用戶用的放心。

 

四、技術(shù)指標(biāo)

1.分析元素范圍:Na-U

銅合金:Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等;

鑄鐵:Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等;

不銹鋼:Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等;

2.元素含量分析范圍:0.07ppm~99.9%;

3.探測(cè)器:電致冷硅漂移SDD半導(dǎo)體探測(cè)器(分辨率優(yōu)于139eV);

4.測(cè)量范圍:1~45KeV;

6.高壓:5kV~50kV;

7.管流:5μA~1000μA;

8.整機(jī)額定功率:50W;

9.CDD攝像頭分辨率:500萬(wàn)像素;

10.真空泵額定功率:550W;

11.10秒鐘真空度可達(dá)10-2Pa (高真空區(qū)域10-1~10-5Pa);

12.檢測(cè)時(shí)間:120s~300s(時(shí)間隨樣品不同可調(diào)整);

13.儀器重量:65Kg;

14.儀器尺寸:720(W)X440(D)X435(H)mm

 聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X

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